題 名 | 著者(出席者) | 頁 |
巻頭言 「知的財産権と技術標準の相克について」 | 水野 幸男 [NEC特別顧問:(財)知的財産研究所 理事] | |
基本問題委員会 産官学の共同研究の現状と今後の課題 |
若杉 和夫 [石油資源開発(株) 代表取締役社長] 黒川 清 [東海大学 医学部長] 田村 浩一郎 [電子総合研究所 所長] 林 豊 [住友金属工業(株) 常務取締役] 岸 輝雄 [工業技術院 産業技術融合領域研究所 所長:東京大学 先端科学技術研究センター 教授] 吉田 豊麿 [(財)知的財産研究所 専務理事] |
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続々・米国特許クレーム解釈の最近の動向 | 竹中 俊子 [ワシントン大学ロースクール 知的財産権研究センター エグゼキューティブディレクター:同スクール リサーチアシスタントプロフェッサー] | 12 |
米国における知的財産の最近の動向について | ジェラルド J. モッシンホフ [ジョージワシントン大学ロースクール:知的財産権法 客員教授] | 24 |
PCT規則改正作業について(解説) | 木村 史郎 [前 WIPO PCT法律部] | 36 |
判決紹介と争点整理 アルミホイール並行輸入事件最高裁判決 |
(財)知的財産研究所 研究部 | 42 |
ワシントン便り〈第14回〉 | 木原 美武[(財)知的財産研究所 ワシントン事務所長] | 44 |